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焦耳热(I²R损耗)

电气基础

电流在导体中产生的热量与电流的平方乘以电阻成正比,是变压器负载损耗的主要来源。

焦耳热(I²R损耗)是变压器绕组铜损的基本机制。当电流流过导体电阻时,电能以P = I²R的速率转化为热量。

在变压器中,焦耳热占负载损耗的主要部分。基本的I²R分量之外,还有导体、夹紧结构和油箱壁中的杂散涡流损耗——统称为附加损耗。

设计优化:增大导体截面积可降低R,但会增加尺寸和成本。采用更高导电率的高级铜可直接降低损耗。

QDTB优化绕组几何结构并使用高导电率铜,在所有油浸式干式产品中最大限度减少焦耳热。损耗评估方法参见选型指南

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